GC/MS 提供哪些信息？

我们的仪器可以在两种不同的模式下运行，即全扫描和选择离子监测(SIM)模式。 全扫描模式提供了相当地可重现的质谱碎片谱（“指纹”）。质谱在 GC 分离过程中以固定间隔（通常每秒 0.5 - 1 次）被记录（扫描），并被存储在仪器数据系统中，用于随后的定性或定量评估。从这些谱中，通常可以推断出结构特征（质谱解析），但这需要经验并且可能非常耗时，特别是当一个复杂的混合物可能包含数百种成分时。这种“指纹”也可以与存储在标准数据库（质谱库）中的数据进行比较，并且我们目前有多个重要的数据库可以帮助解决问题。尽管库搜索是一种非常有用且省时的技术，但重要的是要记住这样的搜索不识别化合物而是分析员识别化合物! 定量工作可以通过整合选定的离子色谱峰来进行。SIM 是一种更为灵敏的痕量定量分析技术。该技术不是扫描整个光谱，而是在 GC 分离期间仅检测少数离子。这可以使灵敏度增加多达 500 倍，但会牺牲特异性。可以使用稳定同位素标记的内标。



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